在超聲波傳播中，在不同聲速的兩種介質(zhì)界面上，臨界角實(shí)質(zhì)是指折射角為90°時(shí)的入射角（按斯涅耳定律計(jì)算），這只能在被入射介質(zhì)中的聲速大于入射介質(zhì)的聲速時(shí)發(fā)生。超過這一角度時(shí)在被入射介質(zhì)中不會出現(xiàn)某種的特定波形。根據(jù)斯涅耳定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中：α為入射角β為折射角V2為被入射介質(zhì)的聲速V1為入射介質(zhì)的聲速如入射介質(zhì)是水，被入射介質(zhì)是鋼，根據(jù)斯涅爾定律存在兩個(gè)臨界角，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2臨界角：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第二臨界角：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超聲波數(shù)字檢測儀設(shè)備可以進(jìn)行多種語言的切換，適應(yīng)不同地區(qū)的使用需求。南通檢測儀使用教程

探傷儀

概述：帶延遲塊超聲波探頭，通過在探頭下方加裝延時(shí)塊，以提供不同的超聲波檢測功能和選項(xiàng)。延時(shí)塊根據(jù)需求設(shè)計(jì)，有可拆卸延遲塊、表面保護(hù)膜和橡膠延時(shí)塊等選項(xiàng)。帶延遲塊探頭的主要功能是利用探頭晶片與工件表面之間的時(shí)間延遲，這樣能夠提高表面分辨率。帶延遲塊探頭設(shè)計(jì)用于高精度厚度的測量，超薄工件等應(yīng)用材料和復(fù)合材料的分層檢測。使用耐高溫材料的延時(shí)塊還可以制作成用于高溫材料檢測的高溫超聲波探頭。應(yīng)用：帶延遲塊探頭常用于超薄工件檢測和高精度測厚，因此，常采用10MHz/15MHz/20MHz等高頻率，超高頻超聲波探頭需具備窄脈沖寬頻的特性，在薄板金屬構(gòu)件或焊接接頭超聲檢測中具有較高的精度和實(shí)用性。浙江工業(yè)無損探傷儀HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀探傷時(shí)缺陷長度的測定方法。

CSK-IA試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730—2005中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是在IIW試塊基礎(chǔ)上改進(jìn)后得到的，其結(jié)構(gòu)及主要尺寸如圖4—30所示。CSK-IA試塊有三點(diǎn)改進(jìn):1)將直孔φ50mm改進(jìn)φ50mm、φ44mm、φ40mm臺階孔，以便于測定橫波斜探頭的分辨力。2)將R100改為R100、R50階梯圓弧，以便于調(diào)整橫波掃描速度和檢測范圍。3)將試塊上標(biāo)定的折射角改為K值(K=tanβs)，從而可直接測出橫波斜探頭的K值。CSK-IA試塊的其他功能同IIW試塊,材質(zhì)一般同被檢工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試塊是JB/T4730—2005標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定采用的焊縫超聲波檢測用的橫孔標(biāo)準(zhǔn)試塊。CSK-IA結(jié)我國的CSK系列標(biāo)準(zhǔn)試塊比較特殊，要求試塊材質(zhì)與工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA試塊主要用于測定橫波距離一波幅曲線、斜探頭的K值和調(diào)整橫波掃描速度和靈敏度等。其中CSK-IA和CSK-A適用于壁厚范圍為8~120mm的焊縫，CSK-ⅣA系列試塊用于壁厚范圍120～400mm的焊縫。

方法一：橫波探傷法對焊縫進(jìn)行超聲波檢測時(shí)，需要在焊縫兩側(cè)進(jìn)行探傷，找到底端反射波B，移動超聲波探頭找到頂端反射波T，出現(xiàn)在B和T波之間的異?；夭ǎ‵）即為缺陷波，由于超聲波檢測時(shí)采用聲波的多次反射法進(jìn)行探傷，可選擇具有半跨距顯示功能的超聲波探傷儀，通過輸入檢測板厚度值，從而在超聲波探傷儀波形顯示區(qū)域可更直觀的顯示出檢測缺陷的具體信息。方法二：超聲波穿透法如果焊接后表面平整，也可采用縱波法進(jìn)行探傷，如果焊縫中存在一定尺寸的氣孔或者夾雜缺陷，收到的超聲波波幅遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于沒有缺陷時(shí)，當(dāng)缺陷達(dá)到一定尺寸后，接收探頭無法接收到超聲波。超聲波數(shù)字檢測儀可以進(jìn)行多種數(shù)據(jù)處理方式的選擇，提高數(shù)據(jù)分析能力。

試塊的分類超聲檢測用試塊通常分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊和模擬試塊三大類。(1)標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊通常是由機(jī)構(gòu)制定的試塊，其特性與制作要求有專門的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。標(biāo)準(zhǔn)試塊通常具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。如IIW試塊,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）對比試塊對比試塊是以特定方法檢測特定工件時(shí)采用的試塊，含有意義明確的人工反射體（平底孔、槽等)。它與被檢工件材料聲學(xué)特性相似，其外形尺寸應(yīng)能被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。對比試塊主要用于檢測校準(zhǔn)以及評估缺陷的當(dāng)量尺寸，以及將所檢出的不連續(xù)信號與試塊中已知反射體產(chǎn)生的信號相比較。(3）模擬試塊模擬試塊是含模擬缺陷的試塊，可以是模擬工件中實(shí)際缺陷而制作的樣件，或者是在以往檢測中所發(fā)現(xiàn)含自然缺陷的樣件。模擬試塊主要用于檢測方法的研究、無損檢測人員資格考核和評定、評價(jià)和驗(yàn)證儀器探頭系統(tǒng)的檢測能力和檢測工藝等。手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀校準(zhǔn)方法、校準(zhǔn)視頻!浙江數(shù)字超聲波探傷儀用途

HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀壓力容器行業(yè)超聲波檢測解決方案。南通檢測儀使用教程

渾身是寶的CSK-IA超聲波試塊CSK-IA試塊是超聲波檢測較常用的試塊之一，標(biāo)準(zhǔn)中對于試塊的定義分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對比試塊，其中CSK-IA試塊穩(wěn)居標(biāo)準(zhǔn)試塊行列已有15年之久。針對CSK-IA試塊的各部分功能進(jìn)行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于測定聲速、探頭的入射點(diǎn)（前沿、探頭延遲），如果只采用單弧（50mm或100mm）可測定探頭的入射點(diǎn)，聲速可以手動輸入。建議可采用單弧測試，測定聲速為CSK-IA試塊的聲速?。?）可采用三個(gè)不同深度的臺階底面（85mm、91mm、100mm）用于測定直探頭的分辨力，測試結(jié)果可做參考NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三個(gè)階梯孔測定斜探頭的分辨力，此處測試結(jié)果可做參考，NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。另外可采用50mm圓孔測試斜探頭K值，K2、K2.5、K3探頭布置在上表面，K1、K1.5探頭布置在下表面。采用50mm圓孔還可測試直探頭的盲區(qū)，探頭位置分別布置在試塊上表面及側(cè)面，此處測試結(jié)果也作為參考，具體方法應(yīng)參照J(rèn)B/T9214。（4）φ1.5mm橫孔可用于測試斜探頭K值。（5）將CSK-IA試塊平置，可用25mm大平底、測試水平線性、垂直線性，垂直線性測試結(jié)果可作參考，具體方法參照J(rèn)B/T9214。另外可用大平底校準(zhǔn)直探頭！南通檢測儀使用教程

南通繪環(huán)電子科技有限公司目前已成為一家集產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷售相結(jié)合的其他型企業(yè)。公司成立于2014-11-19，自成立以來一直秉承自我研發(fā)與技術(shù)引進(jìn)相結(jié)合的科技發(fā)展戰(zhàn)略。公司主要經(jīng)營超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀等，我們始終堅(jiān)持以可靠的產(chǎn)品質(zhì)量，良好的服務(wù)理念，優(yōu)惠的服務(wù)價(jià)格誠信和讓利于客戶，堅(jiān)持用自己的服務(wù)去打動客戶。依托成熟的產(chǎn)品資源和渠道資源，向全國生產(chǎn)、銷售超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀產(chǎn)品，經(jīng)過多年的沉淀和發(fā)展已經(jīng)形成了科學(xué)的管理制度、豐富的產(chǎn)品類型。我們本著客戶滿意的原則為客戶提供超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀產(chǎn)品售前服務(wù)，為客戶提供周到的售后服務(wù)。價(jià)格低廉優(yōu)惠，服務(wù)周到，歡迎您的來電！

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